Silicon Nitride Lift-Out Grids for Heating & Electrical biasing
加熱・電気バイアス-窒化シリコンメンブレンLift-Outグリッド

Flip-satge FIB/SEMホルダー、TEMホルダーに適合
400nm 窒化シリコンメンブレン
●窒化シリコンメンブレンはFIBにより、電子透過(50nm以下可能な厚さに加工 
●金コート電極:電気バイアス回路、サンプル加熱アプリケーション
●試料調製、薄膜加工のための簡単にアクセスエッジを提供し、ウィンドウ100 x 500μm
 長さに沿って、浮遊側に窒化シリコン
   メンブレンが備えられています

SiN Lift-Out TEM Windows
with gold contacts
SiN Lift-Out TEM Windows
イメージ
型 番 SN100-LFT-AU SN100-LFT
メンブレン SiN 400nm SiN 400nm
ウィンドウ 100 x 500um 100 x 500um
フレーム厚 100um 100um
電 極 金電極(200 nm) N/A
価 格 138,000/10 82,000/10


窒化シリコンメンブレン金電極部

     
  SEM X35 (グリッド全体像)
  SEM X50 (Au 電極部全体)
   
   SEM X40 (傾斜角度 70°)   SEM X2000 (Au 電極接点)
  写真提供: 名古屋大学超高電圧電子顕微鏡施設  





集束イオンビーム(FIB)用シリコンハーフグリッド
Silicon Half Grids for Focused Ion Beam
FIB試料調製のための"シリコンハーフグリッドの実質的にあらゆる
材料からのin-situ TEM、トモグラフィーのためのFIB試料、およびアトムプローブの調製における劇的な改善を提供します。 シリコンは容易にPtと接着し、簡単にサンプル形状と一致するように変更することができ、超クリーン、無金属基板を提供します。 FIBグリッドは堅牢で取り扱いが容易で簡単です。

シリコンハーフグリッドは再現性があり、品の高い試料と得られた高分解能イメージングのための究極の柔軟性を提供する3つの構成で利用可能です。標準構成では、ラメラの底カットに密接に一致する面取り取付面を持つ単一のフラットマウントを持っています。


Si FIB Half Grids仕様
型 番 F01-00B F01-01B F01-04A
イメージ
Continuous beveled mounting surface. Single mounting finger with beveled mounting surface Four mounting fingers with sharp/shapeable mounting tips
グリッド形状 3mm径, 100 um厚
グリッド材質 シリコンウェハ


特 長】
● 100umの厚さを有する標準的な3mm形状は任意のTEMとFIBの準備試料ホルダーに収まります
● Bドープ導電性シリコンは、試料調製およびTEM撮像時にチャージが最小限に抑えられます
● リジッド基板は、特に多段階処理/イメージングのため、ハンドリングを向上させるために曲がりません
● メタルフリーシリコングリッドのEDSスペクトルから重元素を除去します
● サンプルにグリッドを一致させることができ、新しい成形可能なSiの先端を含む連続斜めの取付け
面や指状で使用可能
●幅広いアプリケーションに最適(半導体、cryoFIBの準備、固定/組み込みソフトマテリアル)



型 番 品名/詳細 数 量 価 格
F01-00B-10 Silicon half grids for in-situ FIB liftout.
55 degree beveled mounting flat for easy attachment
10/pk 58,000
F01-00B-25 25/pk 85,000
F01-00B-100 100/pk 245,000
F01-01B-10 Silicon half grids with single mounting finger for in-situ FIB liftout.
Beveled mounting flat for easy attachment
10/pk 58,000
F01-01B-25 25/pk 85,000
F01-01B-100 100/pk 275,000
F01-04A-10 Silicon half grids with 4 shapeable mounting fingers
for in-situ FIB liftout.Ultrasharp tips
10/pk 80,000
F01-04A-25  25/pk 160,000
F01-04A-100 100/pk 425,000

Silicon FIB Grids with Shapeable Tips


アトムプローブ、トモグラフィーのサンプルを
調製するためのFIB形針状の形の先端


断層撮影法、原子プローブ顕微鏡、および
カスタムグリッドジオメトリを使用するための
Si FIBグリッドの形を整えられるつば先端

FIBのラメラサンプルは傾斜取付面の
Siハーフグリッドにマウント

FIBのラメラサンプルが成形可能な取付
面とマルチフィンガーのSiハーフグリッド
上にマウント


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