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Tin on Carbon: SEM分解能テスト試料
タングステン、Lab6または電界放出ガン(例えば、FEG)エミッタを備えたSEMにおける解像度テストのために設計され、高度に使用されているGold-on-Carbon分解能テスト試料と同様に、金属の個々の粒子を炭素のバックグラウンドに対してイメージし、粒子間の隙間を明確に決定できる最小の粒子間隔を視覚的に決定することです。 個々の粒子は、直径約30nmであり、SEMにおける非点収差補正の理想的な寸法です。 炭素試料上のスズは、後方散乱電子(BSE)検出モードで動作する優れた画像性能チェッカーでもあります。
※その他のマウント(pin-mount等)選択可、お問い合わせください。
| 型番 | 品名 | 仕様 | 数量 | 価格 |
|---|---|---|---|---|
| 02863 | Tin on Carbon | 9.5.x 9.5mm Round mount | 1 | ¥72,000 |
Tin on HOPG: SEM分解能テスト試料
Tin on Carbonとは違いTin on HOPG表面にはステップまたは粒界、接合がある表面形態になります。
マウント仕様
Roundシリンダー: 9.5 mm Dia x 9.5mm High
Pinタイプ:Table Dia: 12.7 mm, Pin Dia: 3.2 mm, Pin length: 8.0 mm
1" roundシリンダー:25 mm Dia x 20 mm High
※その他のマウント選択可、お問い合わせ下さい。
マウント仕様
Roundシリンダー: 9.5 mm Dia x 9.5mm High
Pinタイプ:Table Dia: 12.7 mm, Pin Dia: 3.2 mm, Pin length: 8.0 mm
1" roundシリンダー:25 mm Dia x 20 mm High
※その他のマウント選択可、お問い合わせ下さい。
| 型番 | 品名 | 仕様 | 数量 | 価格 |
|---|---|---|---|---|
| 02861 | Tin on HOPG | 9.5 x 9.5mm round mount | 1 | ¥82,000 |
| 02862 | Pin mount | 1 | ¥82,000 | |
| 02871 | 1" round mount | 1 | ¥82,000 |
