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商品コード:
EDS2

X-Checker for SEM/EDSキャリブレーション

関連カテゴリ:
電子顕微鏡関連 > EDS/WDS標準試料/キャリブレーション

X-Checker SEM/EDS Calibration


X-Checker EDS/SEMキャリブレーション

SEM, EDS, DRTシステムの性能を検証し、モニタリングするための理想的なツール

X-Checkerは標準的な25 mmø x 5mm(シリンダータイプ)、12.7mmø​(ピンタイプ)のアルミマウントを採用しており、古いものから新しいものまで、商業的に製造されたSEMに適合します。X-Checker™を使用すると、検出器の分解能とキャリブレーションチェック、検出器ウィンドウの汚れテスト、ローエンド感度をモニターし、そして画像解析ソフトウェアをキャリブレーションすることができます。

素早く検出器の分解能(半値幅のピーク幅)とMnまたはNiのエネルギー校正を確認します。原子番号感度が低いかどうかを確認し、画像分析ソフトウェアを校正します。
 
X-Checker特徴:
●アルミニウムと銅によるスペクトル校正
●炭素およびアルミニウムによる低エネルギースペクトル校正
●マンガン半値全幅測定
●検出器窓の汚染、不純物モニタリングのための低エネルギー感度試験
●画像処理ソフトウェアと倍率校正をチェックするための2つのニッケルグリッドサイズ(高倍率と低倍率)。
●後方散乱電子検出器の性能
  
型番 品名 マウント 数量 価格
02207-S X-checker (Mn, Cu, C, Ni)
※Niは400と1000meshのTEMグリッドになります
シリンダー 1 155,000
02207-P ピン 1 155,000
 
シリンダーマウント ピンマウント
材質:アルミニウム
直径:25mm
高さ:5mm


 
材質:アルミニウム
テーブル直径:12.7mm
高さ:11mm
テーブル高さ:3.2mm
ピン径:3.2mm



X-Checker Extra

X-Checker Extra
この製品は、上記のX-Checker 02207-S, -P同じ要素に加えて、BNが含まれています。
●窒化ホウ素による低エネルギースペクトル性能検査
●細いウィンドウおよびウィンドウのない検出器で、ローエンド性能をより高感度にモニターできます。

 
型番 品名 マウント 数量 価格
02207X-S X-checker (Mn, Cu, C, Ni, BN)
※Niは400と1000meshのTEMグリッドになります
シリンダー 1 175,000
02207X-P ピン 1 175,000



X-Checker Extra Extra

X-Checker Extra Extra
この製品は、上記のX-Checker, X-Checker Extraと同じ要素に加えて、FとBeが含まれています。
EDSパフォーマンスモニタは、フッ素K-alphaピーク(ローエンド解像度を測定するための業界標準)での解像度をテストするためのフッ素を含みます。
●ローエンド検出器性能のテストのために、ベリリウムハーフグリッドも追加されています。

 
型番 品名 マウント 数量 価格
02207XX-S X-checker (Mn, Cu, C, Ni, BN, F, Be)
※Niは1000meshのTEMグリッドになります
​※Beはハーフグリッドになります。
シリンダー 1 195,000
02207XX-P ピン 1 195,000