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X-Checker for SEM/EDSキャリブレーション
商品コード:
EDS2

X-Checker for SEM/EDSキャリブレーション

関連カテゴリ:
電子顕微鏡関連 > EDS/WDS標準試料/キャリブレーション

X-Checker SEM/EDS Calibration


X-Checker SEM/EDSキャリブレーション

SEM, EDS, DRTシステムの性能を検証し、モニタリングするための理想的なツール

X-Checkerは標準的な25.4 mm x 7.5mmの" Metallographic Size "マウントを採用しており、非常に古いものから非常に新しいものまで、商業的に製造されたSEMに適合します。素早く検出器の分解能(半値幅のピーク幅)とMnまたはNiのエネルギー校正を確認します。原子番号感度が低いかどうかを確認し、画像分析ソフトウェアを校正します。
 
X-Checker特徴:
●アルミニウムと銅によるスペクトル校正
●炭素およびアルミニウムによる低エネルギースペクトル校正
●マンガン半値全幅測定
●検出器窓の汚染、不純物モニタリングのための低エネルギー感度試験
●画像処理ソフトウェアと倍率校正をチェックするための2つのニッケルグリッドサイズ(高倍率と低倍率)。
●後方散乱電子検出器の性能
 
X-Checker Extra
この製品は、上記の機能に加え、以下のすべてが含まれています。
●窒化ホウ素による低エネルギースペクトル性能検査
●フッ素のK-αピークによるスペクトル分解能の低エネルギー側の検査
●ベリリウム(Be)グリッドによる高性能検出器の低エネルギー感度検査
 
X-Checker Extra Extra
この製品は、上記の機能に加え、以下が含まれています。
●Faraday Cupにマウント
型番 品名 数量 価格
02207 X-checker(Mn, Cu, C, Ni) 1 145,000
02207X X-checker Extra(Mn, Cu, Ni, B) 1 190,000
02207XX X-checker Extra Extra(Mn, Cu, C, Ni, B, F, Be)
Mount with Faraday Cup
1 250,000