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タングステン AEM/EDSスタンダード
商品コード:
TNGS

タングステン AEM/EDSスタンダード

関連カテゴリ:
電子顕微鏡関連 > TEM標準試料/キャリブレーション
電子顕微鏡関連 > EDS/WDS標準試料/キャリブレーション
電子顕微鏡関連 > SEMテスト試料/キャリブレーション
Tungsten Thin-Sectioned Metal Foil Standard
for AEM/EDS on Be Grid

分析電子顕微鏡(AEM)用校正ツール

 

タングステンフォイルスタンダード(AEM/EDS)

Tungsten Thin-Sectioned Metal Foil Standard for AEM/EDS on Be Grid
タングステン薄切片フォイル/ベリリウムTEMグリッド AEM/EDSスタンダード

タングステン薄切片フォイル/ベリリウムTEMグリッド AEM/EDSスタンダード
高純度標準金属箔は、ダイヤモンドナイフ超微細切削を用いて薄切片化され、Be TEMグリッド上にマウントされています。この製品は分析電子顕微鏡(AEM)用の理想的な校正ツール。

フォイル材質: 80〜100nmタングステン(W)
サポートグリッド:ベリリウム(Be)
 
型番 品名 数量 価格
02894 タングステン薄切片フォイル/ベリリウムTEMグリッド
AEM/EDSスタンダード
1 65,000
タングステン AEM/EDSスタンダード